ОЦЕНКА ВОЗДЕЙСТВИЯ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ НА ЭЛЕКТРОННЫЕ КОМПОНЕНТЫ ПО РЕЗУЛЬТАТАМ ИСПЫТАНИЙ ОГРАНИЧЕННЫХ ВЫБОРОК

 

М.М.Венедитов1,

Е.С.Оболенская2,

В.К. Киселев1,

С.В.Оболенский2

 ¹ ФГУП  «ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е. Седакова», 603137, Нижний Новгород , ул. Тропинина, 47

² ННГУ им. Н.И. Лобачевского,  603022, Нижний Новгород, просп. Гагарина, 23

Статья поступила в редакцию 15 декабря 2016 г.

Аннотация. Проведено исследование стойкости электронных компонентов к воздействию ионизирующих излучений (ИИ) по результатам испытаний ограниченной выборки электронной компонентной базы (ЭКБ). Особое внимание обращено на коэффициент шума – основной критериальный параметр малошумящих усилителей. Проблема состоит в том, что на частотах свыше 12 ГГц коэффициент шума невозможно измерить на сигнальных линиях длиной около 25 метров,  применяемых при проведении испытаний полупроводниковой ЭКБ на моделирующих установках – импульсных ядерных реакторах. В связи с указанным на основе физико-топологического моделирования и сопоставления его результатов с экспериментальными данными предложен простой аналитический подход к расчетно-экспериментальному определению коэффициента шума в момент и после радиационного воздействия. Это позволяет использовать указанный критериальный параметр наравне с другими параметрами при проведении испытаний малошумящих усилителей.

Ключевые слова: стойкость электронных компонентов, ионизирующее излучение, коэффициент шума, малошумящие усилители, импульсный ядерный реактор.

Abstract. The resistance of electronic components to the cart-ionizing radiation (IR), the results of tests of limited electronic components of the sample (ECB) were investigated. Particular attention is drawn to the noise factor - the main criterial option of low-noise amplifiers. The problem is that at frequencies above 12 GHz noise figure cannot be measured on the signal lines of up to 25 meters long, used in testing semiconductor ECB on modelling devices - pulsed nuclear reactors. Based on physical and topological modelling and comparison with experimental data we suggest a simple analytical approach to the settlement and the experimental determination of the noise factor during and after radiation exposure. This allows to use the specified criterial parameter along with other parameters when testing low-noise amplifiers.

Key words: resistance of electronic components, ionizing radiation, noise figure, low noise amplifiers, pulsed nuclear reactor.

 

Ссылка на статью:

Оценка воздействия ионизирующих излучений на электронные компоненты по результатам испытаний ограниченных выборок. М.М.Венедиктов, Е.С.Оболенская, В.К.Киселев, С.В.Оболенский. Журнал радиоэлектроники [электронный журнал]. 2017. №1. Режим доступа: http://jre.cplire.ru/jre/jan17/2/text.pdf