"ЖУРНАЛ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ" N 8, 2009

оглавление              текст:   html,   pdf   

 (C-V) and Y-Parameters Determination of JFETs under Different Environmental Conditions

 

S. M. El-Ghanam

Womens College for Arts, Science, and Education,
Ain shams University, Heliopolis, Cairo Egypt

Received July 17, 2009

 

            The C-V characteristics of n-channel JFET have been  measured as a function of temperature up to 140 0C and γ- rays up to 100 kGy. The results show that the input capacitance Ciss is an increasing function of temperature when measured at small bias voltage and low frequency bands. On the other hand, Ciss was shown to decrease from 11.68 down to 8.17 nF due to γ- exposure up to 100 kGy. In addition, the physical parameters of the gate-source junction were investigated, where their values were to shown to be funcion of  both  temperature increasing and γ- exposure. The values of the Y- parameters of common-source amplifier were calculated under influence of temperature and γ- rays. The result shows that, the susceptance component of the admittance increases due to temperature increasing, while decreasing after γ- exposure. The investigation was extended to include the temperature and radiation effects on the cutoff frequency fT0 . It is clear from calculations that, as the temperature increases from 30 0C up to 140  0C, fT0 dropped from  47 MHz down to 5 MHz, at 0.8 Volt. On the other hand its value was shown to increase from 43 MHz up to 102 MHz, at 0.8 Volt, due to γ- exposure up to 100 kGy.

 

Keywords:  JFET, input capacitance, Y-parameters  quality factor,  dissiption factor, phase angle, impedance, cutoff frequency.

 

Определение (C-V) и Y-параметров полевого транзистора с управляющим p-n переходом при различных условиях окружающей среды

С. М. Эл-Ханам

Университет Каира, Египет

 
Получена 17 июля 2009 г.

Были измерены вольтамперные характеристики n-канального полевого транзистора как функции температуры до 140 градусов и гамма-облучения до 100 kGy. Резуьтаты показывают, что входная емкость растет с температурой при измерении с  малым напряжением смещения и в низкой полосе частот. С другой стороны, показано, что Ciss  уменьнается от 11.68 до 8.17 nF при гамма-облучении до 100 kGy. Также были исследованы физические характеристики перехода затвор-исток, которые оказались зависящими от повышения температуры и от гамма-облучения. Были рассчитаны зависимости значений Y-параметров усилителя с общим истоком от температуры и гамма-облучения. Оказалось, что реактивная часть адмитанса увеличивается при увеличении температуры и уменьшается при гамма-облучении. Было также исследовано влияние температуры и радиации на частоту отсечки fT0. Из вычислений следует, что при росте температуры от 300C до 1400C  fT0 падает с 47 MHz до 5 MHz при 0.8 V. С другой стороны, ее значение увеличивается с 43 MHz до 102 MHz при 0.8 V благодаря гамма-облучению до 100 kGy.

 
Ключевые слова: полевой транзистор, входная емкость, Y- параметр, коэффициент потерь, фазовый угол, импеданс, частота отсечки.

 

 

 

   xxx