УДК 621.385.2.029
СТАТИСТИКА ПОВРЕЖДЕНИЯ
СВЧ ДИОДОВ ИМПУЛЬСНЫМ РАДИОИЗЛУЧЕНИЕМ
А.В. Ключник1, Ю.А. Пирогов2 ,
А.В. Солодов1
1Федеральное
государственное унитарное предприятие “Московский радиотехнический
институт Российской Академии наук”,
2Московский
государственный университет им. М.В.Ломоносова, Центр магнитной томографии и
спектроскопии
Получена 29 ноября 2010 г.
Аннотация. Рассмотрен процесс накопления повреждений СВЧ
диодами при воздействии последовательности импульсов радиоизлучения. Проведен
статистический анализ вероятности отказа СВЧ диодов от мощности воздействующих
радиоимпульсов в полиимпульсном режиме.
Ключевые слова:
модель, накопление повреждений, СВЧ диоды, радиоимпульс.