"ЖУРНАЛ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ" №5, 2008

оглавление              текст:   html,   pdf   

 

Диэлектрические свойства монокристаллов TlGa1–xFexSe2 в переменных электрических полях

 

С. Н. Мустафаева
Институт Физики Национальной Академии Наук Азербайджана

 

Получена 28 апреля 2008 г.

 

Изучено влияние частичного замещения галлия железом в слоистых монокристаллах TlGaSe2 на диэлектрические свойства полученных кристаллов в переменных электрических полях. Исследованы частотные зависимости тангенса угла диэлектрических потерь (tgd), диэлектрической проницаемости (e) и ac-проводимости вдоль С-оси кристаллов в частотном диапазоне 5×104¸3.5×107 Hz. Установлено, что в переменных электрических полях в монокристаллах TlGa1–xFexSe2 (x = 0; 0.001; 0.005 и 0.01) имеет место прыжковая проводимость sac ~ f 0.8 по локализованным вблизи уровня Ферми состояниям. Установлено, что по мере увеличения содержания железа в кристаллах TlGa1–xFexSe2 граничная частота, при которой имел место f 0.8 – закон для проводимости, смещалась в сторону более низких частот. При высоких частотах в монокристаллах TlGa1–xFexSe2 на зависимости sac(f) наблюдается суперлинейный участок fn, где n=1.1¸2.0. Оценены плотность локализованных состояний,   ответственных   за  ac-проводимость, среднее время и расстояние прыжков, разброс ловушечных состояний вблизи уровня Ферми в монокристаллах TlGa1–xFexSe2 различного состава. Показано, что по мере увеличения содержания железа в кристаллах удельное сопротивление их уменьшается, среднее время и расстояние прыжков увеличиваются, а частота, при которой начинают проявляться релаксационные потери, смещается в сторону низких частот. 

 

 

 

   xxx