Методика экспериментального исследования коэффициентов спектральной яркости материалов и природных фонов
Аннотация
Описана методика экспериментального исследования коэффициентов спектральной яркости в диапазоне длин волн 470…940 нм объектов, природных и антропогенных фонов с помощью многоспектральной камеры. Приведены примеры результатов измерений коэффициентов спектральной яркости.
- спектральная селекция
- многоспектральная съёмка
- телевизионные системы
- многоспектральная камер
- спектральная яркость
Abstract (in English)
Technique for experimental study of spectral brightness coefficients materials and natural backgrounds
The article describes a technique for experimental study of spectral brightness coefficients in the wavelength range of 470 ... 940 nm of objects, natural and anthropogenic backgrounds using a multispectral camera. Examples of the results of measurements of the spectral brightness coefficients are given.
Для цитирования
Овчинников А.В. Методика экспериментального исследования коэффициентов спектральной яркости материалов и природных фонов // Журнал радиоэлектроники. – 2021. – № 6. https://doi.org/10.30898/1684-1719.2021.6.5
Литература
- Шовенгердт Р.А. Дистанционное зондирование. Модели и методы обработки изображений. Москва, Техносфера. 2010. 560 с.
- Молчанов А.С. Состояние, развитие и применение гиперспектральных технологий в аэрокомплексах и системах воздушной разведки. Сборник тезисов докладов научно-технической конференции "Гиперспектральные приборы и технологии". Красногорск, 17-18 января 2013 г. С.21-23.
- Овчинников А.В. Многоспектральная камера с последовательным формированием изображений. Журнал радиоэлектроники [электронный журнал]. 2021. №5. https://doi.org/10.30898/1684-1719.2021.5.6 (дата обращения: 10.06.2021 г.)
- Кринов Е.Л. Спектральная отражательная способность природных образований. Москва, Ленинград. Изд-во АН СССР. 1947. 272 с.
- Погорельский С.Л., Макарецкий Е.А., Понятский В.М., Овчинников А.В., Гублин А.С., Шилин А.А. Результаты экспериментального исследования спектров материалов и сложных фонов. Известия Тульского университета. Технические науки. 2020. Вып.11. С.85-91.