ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН English Войти Подать статью
Журнал радиоэлектроники Электронный научный журнал · eISSN 1684-1719
2007, № 3 · ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА

Квазигидродинамическое моделирование особенностей электропроводности наноразмерных многослойных сильнолегированных гетероструктур

В.А. Гергель1, А.П. Зеленый1, М.Н. Якупов1

1 ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН, Москва, Россия

Аннотация

Методами математического моделирования на основе уравнения энергетического баланса исследована электропроводность наноразмерных слоистых гетероструктур в сильных электрических полях. Использовано квазигидродинамическое описание электронного дрейфа с учетом диффузионной и термодиффузионной компонент тока, дивергенции электронного теплового потока и температурной зависимости подвижности и времени энергетической релаксации. Полученные вольтамперные характеристики с высотой барьера и равной протяженностью узко- и широкозонных составляющих, в зависимости от уровня легирования в диапазоне отличает либо резкий пик дифференциальной проводимости, либо, так называемая, петля бистабильности, отвечающая термоинжекционной неустойчивости. Предложена физическая модель, интерпретирующая форму расчетных характеристик кумулятивным действием электростатического снижения высоты гетеробарьеров и ростом электронной температуры в окрестности инжектирующих гетерограниц.

Для цитирования

Гергель В.А., Зеленый А.П., Якупов М.Н. Квазигидродинамическое моделирование особенностей электропроводности наноразмерных многослойных сильнолегированных гетероструктур // Журнал радиоэлектроники. – 2007. – № 3.

Литература

  1. В.А. Гергель, В.А. Курбатов и М.Н. Якупов. ФТП 40(4), 446(2006)
  2. Р.А. Сурис, В.А. Федирко. ФТП 12(6), 1060 (1978)
  3. С.М. Зи. Физика полупроводниковых приборов, (М., Мир, 1984) Т1 с.54
  4. Г.Е. Пикус. Основы теории полупроводниковых приборов. (М. Наука, 1965) с.72
  5. R. Stratton. Phys. Rev., 126(6), 2002 (1962)
  6. R.L. Anderson. Sol.St.Electron., 5, 341 (1962)
  7. L.L. Chang. Sol.St.Electron., 8, 821 (1965)
  8. A. Forghieri, R. Guerrieri, P.Ciampolini, A. Gnudi and M. Rudan. IEEE Tran. On CAD, 7(2), 231(1988)