Приводятся результаты исследования  характеристик сканирования офсетной двухзеркальной апланатической антенны типа Кассегрена (несимметричной вырезки из системы Шварцшильда). Получены зависимости  КИПа и диаграмм направленности от угла отклонения луча в двух плоскостях при оптимизации координат и углов наклона источника. Анализ выполнен с учетом двух последовательных  дифракций поля облучателя на вспомогательном и главном зеркалах в приближении Кирхгофа. Проведено сравнение характеристик сканирования офсетной и осесимметричной апланатических антенн типа Кассегрена.