УДК 621.385.2.029

СТАТИСТИКА ПОВРЕЖДЕНИЯ СВЧ ДИОДОВ ИМПУЛЬСНЫМ РАДИОИЗЛУЧЕНИЕМ

 

А.В. Ключник¹, Ю.А. Пирогов² , А.В. Солодов¹

 

¹Федеральное государственное унитарное предприятие “Московский  радиотехнический институт Российской Академии наук”,

²Московский государственный университет им. М.В.Ломоносова, Центр магнитной томографии и спектроскопии

 

Получена 29 ноября 2010 г.

 

Аннотация.  Рассмотрен процесс накопления повреждений СВЧ диодами при воздействии последовательности импульсов радиоизлучения. Проведен статистический анализ вероятности отказа СВЧ диодов от мощности воздействующих радиоимпульсов в полиимпульсном режиме.

 

Ключевые слова: модель,  накопление  повреждений,  СВЧ диоды, радиоимпульс.