2010, № 7 · RADIO ENGINEERING
Модель накопления повреждений интегральными микросхемами в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения
1 Федеральное государственное унитарное предприятие "Московский радиотехнический институт Российской Академии наук"
2 Московский государственный университет им. М.В.Ломоносова Центр магнитной томографии и спектроскопии, Russia
Abstract
Представлены результаты анализа влияния накопления тепла в кристалле ИМС, при воздействии последовательности импульсов радиоизлучения, на формирование дефектов в структуре ИМС и вероятность её повреждения.
- модель
- накопление
- повреждение
- интегральные микросхемы
- радиоимпульс
Аннотация (на русском)
Модель накопления повреждений интегральными микросхемами в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения
Представлены результаты анализа влияния накопления тепла в кристалле ИМС, при воздействии последовательности импульсов радиоизлучения, на формирование дефектов в структуре ИМС и вероятность её повреждения.
For citation
Kliuchnik A.V., Pirogov I.A., Solodov A.V. Модель накопления повреждений интегральными микросхемами в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения // Journal of Radio Electronics. – 2010. – No. 7.
References
- Риккетс Л.У., Дж. Э. Бриджес, Дж. Майлетта. Электромагнитный импульс и методы защиты. М., Атомиздат, 1979.
- G.C.Messenger, M.S.Ash. «The Effects of Radiation on electronic systems», N.Y., 1986.
- Антипин В.В., Годовицын В.А., Громов Д.В., Кожевников А.О., Раваев А.А. Влияние мощных импульсных микроволновых помех на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы. // Зарубежная радиоэлектроника.-1995. №1.-С. 37-52.
- Waunch D.C., Bell R.R. Determination of threshold failure levels semiconductor diodes and transistors due to pulse voltage. // IEEE Trans. Nucl. Sciens.-1968.-Vol. NS - 15, N6.-P. 244-259.
- Tasca D.M. Pulse power failure modes in semiconductors. // IEEE Trans. Nucl. Sciens. - 1970. - Vol. NS-17, N2. - P. 364-372.
- Васильев К.Б., Ключник А.В., Солодов А.В. Повреждение цифровых интегральных под действием импульсного радиоизлучения. // Тезисы докладов на 11-й Междунар. Крымская конфер. «СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии», Севастополь, 2001, - С.300
- Васильев К.Б., Ключник А.В., Солодов А.В. Статистика отказов цифровых ИМС, вызванных импульсным радиоизлучением. // Тезисы докладов на 9-й Междунар. Крымская конфер. «СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии», Севастополь, 1999, - С.329-330.
- Ключник А.В., Солодов А.В. Статистическая модель повреждения цифровых интегральных микросхем импульсным радиоизлучением. // Радиотехника. - 2010. №2. - С.37-41.
- Тихонов А.Н., Самарский А.А. Уравнения математической физики.- М.: Наука, 1972.