Kotelnikov Institute of Radio Engineering and Electronics of RAS Русский Sign in Submit a paper
Journal of Radio Electronics Online scientific journal · eISSN 1684-1719
2012, № 12 · SOLID STATE ELECTRONICS

Генерация терагерцового излучения при межзонном фотовозбуждении эпитаксиальных слоев n-GaN

A.O. Zakharin1, A.V. Bobylev2, A.A. Usikova1, A.V. Andrianov1

1 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Russia
2 Национальный исследовательский университет «Санкт-Петербургский государственный политехнический университет», Russia
Full text (PDF) UDC 537.872.31.029.66/.71, 621.315.595 EDN PXPOED

Abstract

We report on experimental observation and study of terahertz (THz) luminescence under continuous-wave interband excitation of n-GaN(Si) epitaxial layers. Properties of the THz emission show that the emission occurs due to capture of non-equilibrium electrons on ionized donor centers. Optical transitions of 2P → 1S type between first excited and ground donor states give main contribution in THz photoluminescence.

  • spectroscopy
  • terahertz radiation
  • doped semiconductors
  • photoluminescence
Аннотация (на русском)

Генерация терагерцового излучения при межзонном фотовозбуждении эпитаксиальных слоев n-GaN

Сообщается об экспериментальном обнаружении и исследовании люминесценции в терагерцовой (ТГц) области спектра при стационарном межзонном фотовозбуждении эпитаксиальных слоёв n-GaN(Si). Свойства обнаруженного ТГц излучения свидетельствуют о том, что излучение возникает вследствие захвата неравновесных электронов на ионизованные донорные центры. Оптические переходы типа 2P → 1S между первым возбуждённым и основным состоянием донорной примеси вносят основной вклад в ТГц фотолюминесценцию.

For citation

Zakharin A.O., Bobylev A.V., Usikova A.A., Andrianov A.V. Генерация терагерцового излучения при межзонном фотовозбуждении эпитаксиальных слоев n-GaN // Journal of Radio Electronics. – 2012. – No. 12.

References

  1. А.В. Андрианов, А.О. Захарьин, И.Н. Яссиевич, Н.Н. Зиновьев. «Терагерцовая электролюминесценция в условиях пробоя мелкого акцептора в германии»// Письма в ЖЭТФ, 2004, т. 79, выл. 8, с. 448-451.
  2. А.В. Андрианов, А.О. Захарьин, Ю.Л. Иванов, М.С. Кипа. «Примесная терагерцовая люминесценция при межзонном фотовозбуждении полупроводников»// Письма в ЖЭТФ, 2010, т. 91, вып. 2, с. 102-105.
  3. A.O. Zakhar’in, A.V. Andrianov, A.Yu. Egorov, N.N. Zinov’ev. “Terahertz photoluminescence from GaAs doped with shallow donors at interband excitation”//Appl. Phys. Lett., 2010, v. 96, p. 211 118.
  4. В.Н. Абакумов, В.И. Перель, И.Н. Яссиевич. «Безызлучательная рекомбинация в полупроводниках» // Изд-во ПИЯФ РАН, 1997.
  5. Н.Н. Зиновьев, А.В. Андрианов, В.Ю. Некрасов, Л.В. Беляков, О.М. Сресели, Г. Хилл, Дж.М. Чемберлен. «Электролюминесценция квантово-каскадных структур в терагерцовом диапазоне»//ФТП, 2002, т. 36, вып. 2, с. 234-237.
  6. F. Mireles, S.E. Ulloa. “Zeeman splitting of shallow donors in GaN”//Appl. Phys. Lett., 1999, v. 74, p. 248-250.
  7. H. Wang, A.-B. Chen. "Calculation of shallow donor levels in GaN"// J. Appl. Phys., 2000, v. 87, p. 7859-7863.
  8. V.A. Shalygin, L.E. Vorobjev, D.A. Firsov, V.Yu. Panevin, A.N. Sofronov, G.A. Melentyev, A.V. Antonov, V.I. Gavrilenko, A.V. Andrianov, A.O. Zakharin, S. Suihkonen, P.T. Torma, M. Ali, H. Lipsanen."Impurity breakdown and terahertz luminescence in GaN epilayers under external electric field" // J. Appl. Phys., 2009, v. 106, 123 523.
  9. A.V. Andrianov, D.E. Lacklison, J.W. Orton, D.J. Dewsnip, S.E. Hooper, C.T. Foxon. “Low-temperature photoluminescence study of GaN films grown by MBE”//Semicond. Sci. Technol., 1996, v. 11, p. 366-371.
  10. А.В. Акимов, А.А. Каплянский, В.В. Криволапчук, Е.С. Москаленко. «Проявление метастабильных локализованных состояний дырок в медленной кинетике краевой люминесценции n-GaAs» // Письма ЖЭТФ, 1987, т. 46, с. 35-39.
  11. J.W. Orton, D.E. Lacklison, A.V. Andrianov, T.S. Cheng, D.J. Dewsnip, C.T. Foxon, L.C. Jenkins, S.E. Hopper. "Photoluminescence study of silicon-doped GaN grown by MBE on GaAs substrates" // Sol. St. Electron., 1997, v. 41, p. 219-222.