Kotelnikov Institute of Radio Engineering and Electronics of RAS Русский Sign in Submit a paper
Journal of Radio Electronics Online scientific journal · eISSN 1684-1719
2019, № 8 · SOLID STATE ELECTRONICS

Study of heterostructures by measuring surface potential

I.I. Butusov1,2, I.A. Boldyreva1,2, S.V. Popov1,2

1 Военный учебно-научный центр ВВС «Военно-воздушная академия им. профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина», Voronezh, Russia
2 Military training and research center of the air force “Professor N. E. Zhukovsky and Y. A. Gagarin Air force Academy”, Russia
Full text (PDF) DOI: 10.30898/1684-1719.2019.8.11 UDC 621.315.592 EDN AHYWBA

Abstract

He work is devoted to the measurement of the surface potential of heterostructures. A surface potential meter for heterostructures was developed using the Kelvin dynamic probe method. A piezoelectric vibrator is used to vibrate the measuring probe. The output of the measuring probe is 5.0 eV, random measurement error is 100 mV.

  • потенциал поверхности
  • зонд Кельвина
  • гетероструктура
  • surface potential
  • Kelvin probe
  • heterostructure
Аннотация (на русском)

Определение характеристик гетероструктур при измерении потенциала поверхности

Работа посвящена измерению потенциала поверхности гетероструктур. Разработан измеритель потенциала поверхности гетероструктур методом динамического зонда Кельвина. Для вибрации измерительного зонда используется пьезоэлектрический вибратор. Работа выхода измерительного зонда составляет 5,0эВ, случайная ошибка измерений - 100 мВ.

For citation

Butusov I.I., Boldyreva I.A., Popov S.V. Study of heterostructures by measuring surface potential // Journal of Radio Electronics. – 2019. – No. 8. https://doi.org/10.30898/1684-1719.2019.8.11

References

  1. Бутусов И.Ю., Крячко В.В., Лобов И.Е., Котов В.В. Измерение потенциала поверхности кремниевых пластин в процессе производства БИС. Электронная промышленность. 1994. №4-5. С.104-105.
  2. Крячко В.В., Бутусов И.Ю., Линник В.Д., Сонов Г.В. Измерение профиля плотности зарядовых состояний на окисленных кремниевых пластинах. Электронная промышленность. 1994. №4-5. С. 109-111.
  3. Фоменко В.С. Эмиссионные свойства материалов. Справочник. Киев: Наукова думка, 1981г. - 339 с.