Влияние профильных распределений диэлектрических характеристик почво-грунтов и тонких слоев сред на коэффициент отражения при зондировании плоскими горизонтально-поляризованными волнами в СВЧ диапазоне
Abstract
Исследовано влияние неоднородного распределения диэлектрических параметров в почво-грунтах на формирование коэффициента отражения плоской горизонтально поляризованной волны при нормальном падении на поверхность среды. Показано, что для корректной интерпретации результатов подповерхностного зондирования почво-грунтов и тонких диэлектрических слоев необходимо учитывать влияние профильного распределения e и tgd, обусловленных климатическими и погодными факторами.
Аннотация (на русском)
Влияние профильных распределений диэлектрических характеристик почво-грунтов и тонких слоев сред на коэффициент отражения при зондировании плоскими горизонтально-поляризованными волнами в СВЧ диапазоне
Исследовано влияние неоднородного распределения диэлектрических параметров в почво-грунтах на формирование коэффициента отражения плоской горизонтально поляризованной волны при нормальном падении на поверхность среды. Показано, что для корректной интерпретации результатов подповерхностного зондирования почво-грунтов и тонких диэлектрических слоев необходимо учитывать влияние профильного распределения e и tgd, обусловленных климатическими и погодными факторами.
For citation
Zagoskin V.V., Shostak A.S., Lukianov S.P. Влияние профильных распределений диэлектрических характеристик почво-грунтов и тонких слоев сред на коэффициент отражения при зондировании плоскими горизонтально-поляризованными волнами в СВЧ диапазоне // Journal of Radio Electronics. – 1999. – No. 8.
References
- Шутко А.М. СВЧ - радиометрия водной поверхности и почвогрунтов. - М.: Наука, 1986.
- Радугин О.К. Теорема о связи решений задач о поле вертикального и горизонтального диполей. // Изв. вузов Физика, N6, 1966, с. 86-90.
- Финкельштейн М.И., Кутев В.А., Золотарев В.П. Применение радиолокацион-ного подповерхностного зондирования в инженерной геологии. - М.: Недра, 1986. - 128 с.